微波法测量固含量与光学浊度法测量浊度有什么区别
微波法（Teqwave MW500）vs E+H CUS50D/CUS51D/CUS52D 光学浊度传感器
一、底层测量原理
1. 微波法（介电常数透射法，测总含固量 TS）
测量对象：全部固相总占比（包含沉降大颗粒、污泥、石膏浆、赤泥），不区分颗粒大小，只看水 / 固体比例；
信号载体：微波电磁波，不受透光性、颜色、微小悬浮颗粒散射影响；
安装形式：管道对穿式，天线在管壁外侧，不浸入介质，无探头接触浆料。
2. CUS 系列全部为光学浊度法（红外光），测悬浮浊度 / SS 悬浮物
CUS50D：透射吸光原理
红外光束穿过介质，固体颗粒吸收遮挡光线，根据透光衰减换算浊度、SS；适合中高固深色污泥，光程 5/10mm 单点透光窗口。
CUS51D：90°/135° 多光束散射光（ISO 浊度标准）
光线碰到微小悬浮颗粒发生散射，接收散射光强度换算浊度；市政污水、曝气池 SS 专用，可测 0~300g/L 污泥。
CUS52D：标准 90° 散射光（ISO7027）
实验室级低浊度测量，仅适合清水、出水低 SS 场景，量程 0~4000FNU，微量细颗粒检测 精准。
共性：全部是浸入式探头，光学玻璃窗口直接泡在水里；仅对微米级悬浮细颗粒产生散射 / 吸光信号，大颗粒沉淀、粘稠泥浆会直接完全遮挡光路，数据失效。
测量定义：输出浊度 FNU/NTU、悬浮 SS（仅悬浮细颗粒），与管道总固含量有所不同。
二、测量量程与适用固含量区间
| 方案 | 适用固含量 | 适配介质 |
|---|---|---|
| 微波透射仪 | 0~50%TS（0~500g/L） | 高固粘稠浆液：脱硫石膏浆、赤泥、污泥脱水进料、高浓石灰乳，完全不透光介质也能测 |
| CUS50D 透射光学 | 0~60g/L（最高 6% TS） | 中等污泥、工业废水，超过 6% 固含量光路完全遮蔽，读数饱和失真 |
| CUS51D 散射光学 | 0~30g/L（3% TS 以内最优） | 曝气池、生化池回流污泥，高固泥浆易饱和 |
| CUS52D 散射光学 | 0~4g/L（0.4% TS 以内） | 自来水、出水清水、低浊滤液，高固介质直接无法测量 |
三、抗干扰能力（脱硫 / 焚烧洗涤塔工况关键差异）
1. 气泡、泡沫干扰
微波：气泡介电常数接近空气，对微波信号影响极小，洗涤塔带泡沫循环水误差低；
CUS 光学：气泡会强烈散射红外光，泡沫覆盖探头窗口直接数据飘移、虚高，必须持续吹扫清洗。
2. 介质颜色、深色浆料
微波：完全不受介质黑、红、黄色影响，赤泥、深色脱硫石膏浆稳定测量；
CUS 光学：深色染料、高色度废水会大量吸收红外光，读数偏低、需要频繁校准。
3. 结垢、结晶、粘稠挂料
微波：管道内衬 PFA 抛光层，无伸入探头，结垢仅附着管壁，对穿透式微波影响微弱，维护周期 3~6 个月；
CUS 系列：光学窗口直接浸泡，碱垢、石膏结晶、粘稠泥浆极易糊住玻璃窗口，每周甚至每天需要压缩空气吹扫清洗，维护量大。
4. 盐分、电导率波动
微波：内置温度 + 介电双补偿，洗涤塔高盐循环水仅小幅漂移，算法自动修正；
CUS 光学：盐分不直接干扰光学信号，但高盐加速结晶结垢，间接造成探头污染。
四、结构、防腐与防爆适配
微波 Teqwave MW500
管道一体式，内衬 PFA 全防腐，密封 FFKM，适配浓酸浓碱；
无浸入探头，无磨损，不存在颗粒冲刷刮花光学窗口；
支持 Ex ia IIC T6 本安防爆，管道 DN80 起安装；
劣势：小管径 DN50 及以下无法安装，设备采购成本更高。
CUS50D/CUS51D/CUS52D 浸入探头
传感头为 PCTFE/316Ti，可耐酸碱，但前端光学玻璃直面浆料冲刷；
必须配套伸缩支架、吹扫装置，否则结晶快速糊窗；
防爆款需配防爆护套，分体探头线缆防爆布线繁琐；
优势：可用于小流通槽、DN50 小管旁路、浅池浸入安装，单价更低。
五、输出指标定义
关键区分：脱硫塔底流高固石膏浆，CUS 探头直接饱和无读数；微波可稳定读取真实含固量。
六、三款 CUS 细分定位快速区分
CUS52D：低浊清水专用（自来水、滤后出水），完全不适合洗涤塔高固循环液；
CUS51D：市政污水生化池、回流污泥（≤3% 固含），中低固稀浆液；
CUS50D：工业废水、中等浓度污泥（≤6% 固含），可短期用于稀洗涤循环水，高固石膏浆会饱和失效。
七、总结
选微波法（Teqwave MW500）的场景
选 CUS 光学传感器的场景
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